技術書典14半田技術研究所IEEE 1044 を利用したソフトウェア不具合の分類法Digital200 JPYAdd to CartBuy a GiftAbout GiftIEEE 1044はソフトウェア不具合の分類方法を標準化した規格です。 ソフトウェアの不具合を分析すると、プロダクトの品質以外にも開発組織の習熟度や開発プロセスの妥当性などを判断できるようになります。このためには標準化された不具合の記録方法が求められます。IEEE 1044は不具合の分類を利用すると、不具合分析を支援することができます。 また、統一した不具合分類はステークホルダー間のコミュニケーションを円滑にする役割も担います。半田技術研究所Visit FANBOX!技術書典16Tech Books探索的テスト論文レビュー集半田技術研究所400 JPY技術書典13Tech BooksSyML入門半田技術研究所500 JPY技術書典10Tech Booksツーリングテストリファレンス半田技術研究所500 JPY技術書典7Tech Books探索的テストの進め方 改訂版半田技術研究所500 JPY技術書典7Tech Books往年のゲームブック火吹山の魔法使いをステートマシン図で表記する本半田技術研究所250 JPY